CEA
CNRS
Univ. Paris-Saclay

Service de Physique de l'Etat Condensé

Les techniques de diffraction permettent de sonder l'ordre dans la matière. Pour ceci, on fait interagir une onde dont la longueur d'onde λ est comparable à la taille du motif cristallin élémentaire de l'échantillon. Ce peut être une onde électromagnétique (rayons X, lumière Laser) ou des particules (électrons, neutrons ou des atomes d'hélium).

X-ray Photoelectron Diffraction(XPD)

Diffraction
Microscopies électroniques TEM, MEB et LEEM/PEEM
Plusieurs types de microscopies électroniques sont disponibles à l'IRAMIS : - Microscopie à transmission (TEM : Transmission Electron Microscope), qui permet d'atteindre les plus hautes résolutions par diffusion/difffraction d'un faisceau d'électrons à travers un échantillon ultra-mince - Microscopie MEB et MEB-FEG (SPAM et SIS2M), ou microscopie à balayage, pour laquelle un faisceau d'électrons balaye la surface  de l'échantillon permettant d'obtenir une image de sa surface.

Development of novel XPEEM (spatial,momentum and energy resolved)

La spectromicroscopie XPEEM avec le rayonnement synchrotron

L'éclairement, par un rayonnement suffisamment énergétique, de la surface d'un matériau peut conduire à l'émission d'électrons dont la spectroscopie (étude en énergie) apporte des informations sur la composition de la surface étudiée.

Development of novel XPEEM (spatial,momentum and energy resolved)

Spectroscopies électroniques
Rayonnement synchrotron
Aujourd'hui, les anneaux synchrotrons, tels que l'ESRF à Grenoble ou le synchrotron SOLEIL sur le plateau de Saclay, sont des sources intenses de photons (de l'infra-rouge aux rayons X). De nombreuses équipes de l'IRAMIS réalisent régulièrement des expériences autour de ces sources.

La spectromicroscopie XPEEM avec le rayonnement synchrotron

 

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